¼±Åà - È»ìǥŰ/¿£ÅÍŰ
´Ý±â - ESC
KMLE °Ë»ö
°Ë»ö ¼³Á¤
¿Â¶óÀÎ ÀÇÇмÀû
ÀÇÇпë¾î »çÀü
ÀÇÇоà¾î
ÀÇÇлçÀü
ÇÑ¿µ/¿µÇÑ»çÀü
¿µ¿µ»çÀü
»çÀÌÆ® ¼Ò°³
Àç°Ë»ö
"visual field"¿¡ ´ëÇÑ ´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î ¼¼ºÎ °Ë»ö °á°úÀÔ´Ï´Ù
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù 3 ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú :
15
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
bright field microscopy
¸í½Ã¾ß Çö¹Ì°æ¹ý
complex receptive field
º¹ÇÕ¼ö¿ë¾ß(¡áôé»å¯).
comprehensive field irradiation
±¤¹üÀ§Á¶»ç
confrontation field test
´ë¸é½Ã¾ß°Ë»ç
congruous field defect
ÀÏÄ¡½Ã¾ß°á¼Õ
constant field equation
Á¤ÀüÀå(ïÎï³íÞ)¹æÁ¤½Ä(Û°ïïãÒ)
constant field gradient spin echo method
°íÁ¤ °æ»çÀå ½ºÇÉ¿¡ÄÚ¹ý
dark field microscope
¾Ï½Ã¾ßÇö¹Ì°æ
dark field microscopy
¾Ï½Ã¾ßÇö¹Ì°æ
dark-field illumination
¾Ï½Ã¾ßÁ¶¸í
electric field
Àü(±â)Àå(ï³Ñ¨íÞ).
electrical field
ÀüÀå(ï³íÞ).
electromagnetic field
¹æ»ç ÀüÀÚÀå(ï³í¸íÞ).
electromagnetic field
¹æ»ç(Û¯ÞÒ) ÀüÀÚÀå(ï³í¸íÞ).
electromagnetic field
ÀüÀÚ(±â)Àå
ÀÌÀü
´ÙÀ½
ÀÌ ¾Æ·¡ ºÎÅÍ´Â °á°ú°¡ ¾ø½À´Ï´Ù.
´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú :
0
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
ÀÌÀü
´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú :
0
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
ÀÌÀü
´ëÇÑÀÇÇù Çʼö ÀÇÇпë¾îÁý »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú :
0
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
ÀÌÀü
´ëÇÑÀÇÇù Çʼö ÀÇÇпë¾îÁý »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú :
0
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
ÀÌÀü
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú :
0
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
ÀÌÀü
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú :
0
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
ÀÌÀü
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù 2 ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú :
0
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
ÀÌÀü
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù 2 ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú :
0
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
ÀÌÀü
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù 3 ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú :
0
ÆäÀÌÁö:
9
¿µ¹®
ÇѱÛ
ÀÌÀü
ÅëÇÕ°Ë»ö ¿Ï·á
ÀÌÀü
´ÙÀ½