| 영문 | reproductive system | 한글 | 생식기계통 |
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| 설명 | 1.남성생식계통: 남성생식기는 정자(sperm)를 생성하는 고환과 정자의 성숙, 운반, 그리고 사정에 관여하는 부고환, 정관, 음경(penis) 등으로 이루어져 있으며, 부속기관으로 외분비샘인 정낭(seminal vesicle), 전립샘(prostate), 요도망물샘(bulbourethral gland, Cowper’s gland) 등을 갖추고 있다. 고환은 정자를 생산하는 생식샘인 동시에 남성호르몬(testosterone)을 분비하는 내분비샘이다. 고환에서 분비되는 남성호르몬은 정자생성과 생식기의 발달 및 유지에 필수적인 역할을 하므로 남성생식기능의 원천은 고환에 있다고 볼 수 있다. 2.여성생식계통: 여성생식기는 난자를 생성하는 난소와 난자를 자궁으로 운반하는 난관, 그리고 자궁과 질로 이루어져 있으며 외분비선인 바르톨린샘를 갖추고 있다. 난소는 난자를 생성하는 생식샘인 동시에 여성호르몬을 분비케하는 내분비샘이다. 월경주기 전반부에 난자를 생성시키기위해 성숙되고 있는 난포에서 분비되는 에스트로겐은 여성 2차 성징의 발달을 관장할 뿐 아니라 자궁내막을 장차 수정될 수정란이 착상하기에 알맞은 상태로 만들어준다. 난자가 분비되고 남은 황체에서 분비되는 푸로게스테론은 자궁내막을 붓도록 하면 분비액을 증가시키며 자궁근의 수축을 방해하여 임신시 임신을 지속시키는 역할을 한다. |
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| 영문 | digestive system | 한글 | 소화기계통 |
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| 설명 | 먹은 음식의 분해, 소화, 흡수에 관계된 장기를 통칭해서 부르는 말. |
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| 영문 | nervous system | 한글 | 신경계 |
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| 설명 | 여러 기관들의 서로간 상호연결체계가 바로 신경계이다. 여기에는 중추신경계(central nerve system: CNS)와 말초신경계(peripheral nerve system: PNS)가 있는데, 중추신경계란 뇌와 척수를 말한다. 그리고 말초신경계에는 12쌍의 뇌신경(cranial nerve: 뇌에서 기시하여 주로 얼굴부위와 목 부위에 분포한다)과 31쌍의 척수신경(spinal nerve:spinal cord에서 각기 양쪽으로 쌍을 이루어 나오는데 주로 목이하부위의 신체 각부분으로 분포하게 된다)으로 구성되어 있다. 또한 말초신경계는 3가지의 신경조직들로 구성되어 있는데 앞에서 말한 뇌신경과 척수신경외에 자율신경계가 여기에 해당된다. 자율신경계는 다시 교감신경과 부교감신경으로 나뉘어져 서로간의 올바른 상호작용으로 생체 여러 가지 작용을 수행한다. |
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| 영문 | cardiovascular system | 한글 | 심장혈관계 |
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| 설명 | 신체의 혈액순환을 담당하는 기관. 즉 심장과 혈관을 통칭해서 이르는 말이다. |
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| 영문 | autonomic nervous system | 한글 | 자율신경계 |
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| 설명 | 사람의 의지와 관계없이, 침을 흘리거나 소화운동 등과 같은 스스로 조정이 되어 움직이는 신경계이며 여기에는 다음과 같은 두 가지가 있다. 1.교감신경계(sympathetic nervous system)-사람이 위험상태에 이르렀을 경우에 흥분이 되는 자율신경계. 즉 심박수의 증가, 소화기 운동의 감소 등의 일이 이곳을 통해서 일어난다. 교감신경이 흥분되면 교감신경의 말단에서 epinephrine, norepinephrine 등의 물질이 분비되고 이것들에 의해서 말초장기가 변화를 일으킨다. 하지만 장기에 따라서 epinephrine이나 norepinephrine의 수용체를 가지고 있어서 여러 가지 다른 장기의 반응을 볼 수가 있다. 수용체는 다음과 같다. -알파수용체(alpha-receptor): 말초혈관의 수축, 기관지의 수축, 동공의 근육의 수축 -베타1수용체(beta 1-receptor): 심장에 존재하는 수용체, 심장을 빨리 뛰게하는 역할을 한다. -베타2수용체(beta 2-receptor): 혈관의 이완, 기관지의 이완, 즉 각 장기들은 그 장기가 가지고 있는 교감신경의 수용체에 따라 교감신경의 흥분(교감신경 말단에서의 epinephrine의 분비)에 대한 반응이 달라진다(예-교감신경이 흥분시에 beta 1-수용체를 가지고 있는 심장은 빨리 뛰게 된다. 교감신경 흥분시에 동공의 근육이 수축해서 동공의 크기가 커진다) 2.부교감신경계(parasympathetic nervous system)-교감신경과 반대로 작용한다. 즉 사람이 졸리거나 쉴 경우에 흥분한다. 부교감신경이 흥분할 때에는 신경의 말단에서 아세칠콜린의 분비가 일어나고 이것으로 인해서 각 장기의 변화가 일어난다. |
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| IOD | injured on duty; integrated optical density; interorbital distance |
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| MORD | magnetic optical rotatory dispersion |
| OCR | oculocardiac reflex; oculocerebrorenal [syndrome]; optical character recognition |
| OD | Doctor of Optometry; obtained absorbance; occipital dysplasia; occupational dermatitis; occupational... |
| ODU | optical density unit |
| tubelength optical | <microscopy> This distance is measured from the upper focal plane of the objective to the image formed by the objective alone upon removal of the eyepiece. A light microscope so arranged that the specimen, usually a solid-liquid colloid or suspension, is illuminated by a strong pencil of light at right angles to the microscope axis. The visibility is limited by the intensity of the light source. A laser can be used as the source. It is used to detect the presence of light-ultramicroscopic particles within the range of about 0.005,um to 0.2 ~m. Not to be confused with an electron microscope. (05 Aug 1998) |
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| aperture for electron microscopy | <technique> Anode aperture: The opening in the accelerating voltage anode shield of the electron gun through which the electrons must pass to irradiate the specimen. Condenser aperture: An opening in the condenser lens controlling the number of electrons entering the lens and the angular aperture of the electron beam. The angular aperture can also be controlled by the condenser lens current. Physical objective aperture: A metallic diaphragm, with a small central hole, used to limit the cone of electrons accepted by the objective lens. This improves image-contrast since highly scattered electrons are prevented from arriving at the Gaussian image plane and therefore cannot contribute to background fog. Aplanatic. Free from spherical aberration and coma. (05 Aug 1998) |
| Auger electron | An electron ejected from a lower energy orbital after a photoelectric interaction of an X-ray photon with a K-shell electron by the characteristic radiation photon; the Auger electron recoils with energy equal to the characteristic radiation less the difference in shell binding energies. See: photoelectric effect. (05 Mar 2000) |
| backscattered electron | <microscopy> Produced by an incident electron colliding with the nucleus of an atom in the specimen. The incident electron is then scattered backward about 180 degrees with no appreciable loss of energy, an elastic collision. (05 Aug 1998) |
| backscattered electron imaging | <microscopy> The production of backscattered electrons from a sample varies directly with the specimen's average atomic number, higher atomic number elements produce more backscattered electrons than lower atomic number ones. Detection of Backscattered Electrons is achieved by using a donut shaped solid state saemiconductor device mounted on the bottom of the objective lens. When Backscattered Electrons strike the detector electron-hole pairs are created which are then counted. This quantity is translated into a pixel intensity and displayed on the CRT, forming the image. By splitting the detector into halves (or quadrants) differences in the signal level on the individual detector segments provide surface topography information. (05 Aug 1998) |
| valence electron | One of the electron's that take part in chemical reactions of an atom. (05 Mar 2000) |
| Parallel Electron Energy Loss Spectroscopy | <technique> Electron energy loss spectroscopy analyses the inelastically scattered electrons present in the beam after it has been transmitted through the sample. An electron energy loss spectrum typically consists of a monatomic decreasing background on which are superimposed a number of peaks. Each peak is characteristic of the scattering process that has occurred in the sample. The peaks can be used to obtain information about the chemical composition and electronic structure of the sample. Electron energy loss spectra are acquired typically in a magnetic sector spectrometer located under the camera chamber of the transmission electron microscope. Spatial resolution is typically limited by the minimum probe diameter of the microscope. Electron energy loss spectroscopy tends to be complimentary to EDS in that it can be used to analyse very thin samples of low Z materials. Acronym: PEELS (05 Aug 1998) |
| reverse electron transport | <chemistry> The energy-dependent movement of electrons against the thermodynamic gradient to form a strong reductant from a weaker electron donor. (11 Jan 1998) |
| microscope, electron | <microscopy> An electron-optical device which produces a magnified image of an object. Detail may be revealed by virtue of selective transmission, reflection, or emission of electrons by the object. (05 Aug 1998) |
| microscopy, electron | Visual and photographic microscopy in which electron beams with wavelengths thousands of times shorter than visible light are used in place of light, thereby allowing much greater magnification. (12 Dec 1998) |
| microscopy, electron, scanning | Microscopy in which the object is examined directly by an electron beam scanning the specimen point-by-point, giving the surface image a three-dimensional quality. (12 Dec 1998) |
| microscopy, electron, scanning transmission | A type of electron microscopy which scans with an extremely narrow beam that is transmitted through the sample. The detection apparatus produces an image whose brightness depends on the atomic number of the sample. It should not be confused with microscopy, electron scanning nor with microscopy, electron, transmission (see microscopy, electron). (12 Dec 1998) |
| Conventional Transmission Electron Microscopy | <technique> A term applied to 'normal' transmission electron microscopy imaging. The electron beam is passed through a thin film sample (typically ~1-200 nm thick). Bright field diffraction contrast images are formed with the direct (undiffracted) beam. Dark field images are formed with a selected diffracted beam. CTEM imaging is used in the general observation of samples and careful selection of the diffracting conditions of the sample will allow the analysis of defect structures within the sample. (05 Aug 1998) |
| Convergent Beam Electron Diffraction | <microscopy> An electron probe is tightly focused on a transmission electron microscopy specimen and the resulting pattern of diffracted electrons is observed. The patterns contains information on the crystal symmetry and atomic and electronic structure of the sample. Regions as small as 0.2 nm may be examined. Acronym: CBED (05 Aug 1998) |
| conversion electron | An internal conversion electron. (05 Mar 2000) |