¼±Åà - È­»ìǥŰ/¿£ÅÍŰ ´Ý±â - ESC

 
"electron diffraction"¿¡ ´ëÇÑ ´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î ¼¼ºÎ °Ë»ö °á°úÀÔ´Ï´Ù
´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú : 1 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
  • electron diffraction
    ÀüÀÚȸÀý
´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú : 15 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
  • diffraction
    ȸÀý, ¿¡µ¹ÀÌ
  • electron
    ÀüÀÚ
  • electron affinity
    ÀüÀÚģȭ·Â
  • electron beam
    ÀüÀÚ¼±, ÀüÀÚºö
  • electron capture
    ÀüÀÚÆ÷ȹ
  • electron carrier
    ÀüÀÚ¿î¹Ýü
  • electron configuration
    ÀüÀÚ¹èÄ¡
  • electron density
    ÀüÀڹеµ
  • electron emission
    ÀüÀÚ¹æÃâ
  • electron interrupter
    ÀüÀÚÂ÷´Ü±â
  • electron microscope
    ÀüÀÚÇö¹Ì°æ
  • electron microscopic autoradiography
    ÀüÀÚÇö¹Ì°æÀÚ°¡Á¶Á÷¹æ»ç¼±ÃÔ¿µ(¼ú)
  • electron microscopy
    ÀüÀÚÇö¹Ì°æ°Ë»ç(¹ý)
  • electron orbit
    ÀüÀڱ˵µ
  • electron perturbation
    ÀüÀÚ±³¶õ
´ëÇÑÀÇÇù Çʼö ÀÇÇпë¾îÁý »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú : 3 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
  • electron
    ÀüÀÚ
  • electron microscope
    ÀüÀÚÇö¹Ì°æ
  • transmission electron microscope
    Åõ°úÀüÀÚÇö¹Ì°æ
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú : 1 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
  • electron diffraction
    ÀüÀÚȸÀý
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú : 15 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
  • diffraction
    ȸÀý, ¿¡µ¹ÀÌ
  • electron affinity
    ÀüÀÚģȭ·Â
  • electron microscopic autoradiography
    ÀüÀÚÇö¹Ì°æÀÚ°¡¹æ»ç¼±¼ú
  • electron beam
    ÀüÀÚ¼±
  • electron capture
    ÀüÀÚÆ÷ȹ
  • electron carrier
    ÀüÀÚ¿î¹Ýü
  • electron configuration
    ÀüÀÚ¹èÄ¡
  • orbital electron capture
    ±ËµµÀüÀÚÆ÷ȹ
  • electron density
    ÀüÀڹеµ
  • electron capture detector
    ÀüÀÚÆ÷ÂøÅ½Áö±â
  • electron
    ÀüÀÚ
  • electron emission
    ÀüÀÚ¹æÃâ
  • electron gun
    ÀüÀÚÃÑ
  • electron hole
    ÀüÀÚ±¸¸Û
  • electron interrupter
    ÀüÀÚÂ÷´Ü±â
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù 2 ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú : 8 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
  • free electron
    ÀÚÀ¯ÀüÀÚ(í»ë¦ï³í­).
  • free electron
    ÀÚÀ¯ÀüÀÚ
  • high electron density
    °íÀüÀڹеµ(ÍÔï³í­ÚËöô).
  • immune electron microscopy
    ¸é¿ªÀüÀÚÇö¹Ì°æ¹ý.
  • immune-electron microscopy
    ¸é¿ªÀüÀÚÇö¹Ì°æ¹ý
  • immunologic electron microscopy
    ¸é¿ªÀüÀÚÇö¹Ì°æ¹ý.
  • positive electron
    ¾çÀüÀÚ
  • recoil electron
    ¹ÝµµÀüÀÚ
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù 3 ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú : 2 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
  • electron diffraction
    ÀüÀÚȸÀý(¡­üÞï¹).
  • electron diffraction camera
    ÀüÀÚȸÀý Ä«¸Þ¶ó.
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù 3 ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö À¯»ç °Ë»ö °á°ú : 15 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
  • diffraction
    ȸÀý(üÞï¹).
  • electronic diffraction
    ÀüÀÚȸÀý.
  • odd electron ; unpaired electron
    ºÒ´ëÀüÀÚ, ºñ´ëÀüÀÚ.
  • odd electron ; unpaired electron
    ȦÀüÀÚ.
  • auger electron
    ¿ÀÁ¦ÀüÀÚ
  • electron
    ÀüÀÚ
  • electron
    ÀüÀÚ(ï³í­)
  • electron affinity
    ÀüÀÚģȭ·Â(¡­öÑûúæ³).
  • electron avalanche
    ÀüÀÚ»çÅÂ(¡­ÞÞ÷À).
  • electron beam
    ÀüÀÚ¼±(ï³í­àÊ).
  • electron beam contamination
    ÀüÀÚ¼±¿À¿°
  • electron beam flatness
    ÀüÀÚ¼±ÆíÆòµµ
  • electron beam performance
    ÀüÀÚ¼±¼º´É
  • electron beam symmetry
    ÀüÀÚ¼±´ëεµ
  • electron beam therapy
    ÀüÀÚ¼±Ä¡·á
ÀÌ ¾Æ·¡ ºÎÅÍ´Â °á°ú°¡ ¾ø½À´Ï´Ù.
´ëÇÑÀÇÇù Çʼö ÀÇÇпë¾îÁý »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú : 0 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
¿¾ ´ëÇÑÀÇÇù 2 ÀÇÇпë¾î »çÀü °Ë»ö ¸ÂÃã °Ë»ö °á°ú : 0 ÆäÀÌÁö: 1
  • ¿µ¹®
    ÇѱÛ
ÅëÇÕ°Ë»ö ¿Ï·á